研究により新生児脳症の転帰に対する低体温法の影響が明らかになった

専門家らは、新生児脳症における低体温法と損傷パターンが1〜2年後の神経発達転帰に及ぼす影響について、新しい結果を報告した。

米国ペンシルベニア州フィラデルフィア小児病院のAshley Bach博士は、出生1,000人あたり1.5人の割合で発症する低酸素性虚血性脳症(HIE)の、正期産新生児434名の前向きコホートに関する研究結果を報告した。

生き残った小児の約25%が神経発達の後遺症を示し、低体温法はHIE後の神経発達転帰を改善することが示されている。

Bach博士らは、低体温法・MRI所見と神経発達との関連を評価し、低体温法が、転帰に関するMRI上の異常予測値をどのように変化させるかを評価した。

1993年~2017年に募集したコホートは、生後中央値4日で拡散強調MRIを受け(損傷パターンは正常、分岐点、または大脳基底核/視床に分類)、神経発達検査を中央値30か月で受けた。検査には、認知転帰および運動転帰の評価が含まれており、Bayley-II/IIIスコアを使用した。